NanoXSpot - Measurement of the focal spot size of X-ray tubes with spot sizes down to 100 nm
Projekt
Einblicke in ein Röntgenmikroskop. Bildgüte-Prüfkörper unterschiedlicher Größe aus Gold (Vordergrund) und Hochleistungs-Mikrofokus-Röntgenröhre mit Filterrad (Hintergrund)
NanoXSpot - Measurement of the focal spot size of X-ray tubes with spot sizes down to 100 nm
Röntgenbasierte Computertomographie-Systeme (CT-Systeme) werden zunehmend in der Luft- und Raumfahrt sowie in der Medizintechnik zur zerstörungsfreien Prüfung und zur Bewertung von Defekten und inneren Strukturen eingesetzt. Diese Branchen benötigen Bildauflösungen im Nanometerbereich.
Das übergeordnete Ziel des Projekts ist die Entwicklung einer rückführbaren Methode zur Messung von Brennfleckgrößen im Nanometerbereich und das Erarbeiten eines Normentwurfs für CEN/TC/138 WG 1.
Weitere Infos zu NanoXSpot finden Sie auf unserer englischen Homepage.
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Projektlaufzeit
01.07.2019 - 30.06.2022
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Projektart
EU Projekt
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Projektstatus
Geschlossen
Kurzbeschreibung
NanoXSpot ist ein von der EC gefördertes Verbundforschungsprojekt, das rückführbare Messmethoden zur Bestimmung der Größe, Form und Position von Brennflecken in Röntgenröhren mit Abmessungen bis 100 nm entwickelt.
Ort
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
Unter den Eichen 87
12205 Berlin
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Dr. rer. nat. Gerd-Rüdiger Jaenisch
Die BAM ist eine wissenschaftlich-technische Bundesoberbehörde
im Geschäftsbereich des Bundesministeriums für Wirtschaft und Energie.
