Advanced Charakterisierung

AdvancedMaterials@BAM

Referenz-Messverfahren werden im Zuge der Regulation von Nanomaterialien und Advanced Materials allgemein unter REACH immer wichtiger in der EU. An der BAM stehen viele Messverfahren zur Verfügung, die kontinuierlich weiterentwickelt werden. Schwerpunkte der Charakterisierung von Advanced Materials bilden aktuell die Bereiche Morphologie, Größenverteilung, Struktur, spezifische Oberfläche, chemische Zusammensetzung und Oberflächenchemie. Durch die fachbereichsübergreifende Instrumententeilung wird die Nutzung einer wachsenden Anzahl an Instrumenten und Techniken ermöglicht. Aktuell sind an der BAM ca. 30 Techniken verfügbar.

Grafik zur Charakterisierung von Advanced Materials — Grafik: Advanced Materials im Elektronenmikroskop

Im Kompetenzzentrum der BAM stehen u.a. folgende Techniken zur Verfügung:

Bildgebende Verfahren (AFM (IR-AFM, EC-AFM), μ-CT, electron microscopy (EM))
Beugungs- und Streumethoden (SAXS/WAXS, XRD, DLS)
Spektroskopische und chromatografische Verfahren (XPS, ToF-SIMS, Ellipsometrie, IR / Raman, ICP-MS, GC)
Andere Methoden (DSC (sowohl flash-DSC als auch normale DSC), Aerosolmesstechnik (DMAS/SMPS)

Weitere Aktivitäten im Bereich Advanced Charakterisierung beinhalten die Entwicklung fortgeschrittener, skalenübergreifender Analysemethoden, korrelative Datenanalyse, Probenpräparation, Automatisierung der Analyse der Messdaten, und gemeinschaftliche Entwicklung von Mess- und Probendatenbanken für das Datenmanagement, Anpassung entwickelter Messmethoden von einer Materialklasse zu einer anderen, z.B. von Nanopartikeln zu 2D-Graphen-related Materialien.